nadas de Investigación, Desarrollo Tecnológico, Extensión, Vinculación, XII - JIDeTEV - 2022

Por defecto: 
Medición de Resistencias de Valores Óhmicos Bajos por Método de Cuatro Hilos
Maximiliano Sebastián Schöninger, David Alejandro Ayala, Lucas Agustín Statkiewicz, Jorge Alberto Olsson, Hector Rolando Anocibar

Última modificación: 2022-08-21

Palabras clave


Mediciones electrónicas; Método cuatro hilos; Método Kelvin; Resistencias; Óhmetro

Texto completo: PDF