Por defecto:
Estudio de Fallas en Fuentes de Alimentación Conmutadas Debido al Estrés de los Capacitores Electrolíticos
Construir: Principal
Sala: Sala 3-Aula B3
Fecha: 2018-08-22 08:30 – 08:45
Última modificación: 2018-08-15
Palabras clave
Estrés en capacitores; Fallas por descargas Electrostáticas; Fuentes conmutadas; Fuentes swiching; Vida útil del capacitor